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    聚星仪器 NI-VISN-100 RFID/NFC 测试系统 ———聚星仪器 NI-VISN-100 RFID/NFC 测试系统
    上海聚星仪器有限公司

    行业：通讯

    应用需求：RFID/NFC技术是从二十世纪90年代兴起的一项非接触式自动识别技术。近年来，随着物联网概念的兴起，RFID/NFC技术在国内发展很快，已被广泛应用于工业自动化、商业自动化、交通运输控制管理等众多领域。RFID/NFC测试主要为射频性能测试和协议一致性测试，以保证RFID/NFC设备的应用可靠性和各厂商之间的产品互通性。作为无线通讯的新兴领域之一，RFID/NFC技术在具有无线通讯所共有的特性之外，又有着其独有的特殊性，如标准的多样化、需要实时应答等，目前主流的传统测试仪器制造商尚未推出针对RFID/NFC的综测仪。

    面临的挑战：射频识别读卡机和标签的各项技术指标由各类协议规范来决定，如ISO14443，ISO18000等。不同协议差异很大，需要不同的设备，测试成本高。第二代超高频射频识别标准需要在应答器和标签之间建立微秒级实时应答通讯，传统仪器无法达到这个时间要求。

    解决方案：整套系统采用IF RIO结合上、下变频器来实现实时通讯过程，板载FPGA用于建立实时通讯，HOST处理器用于信号的后续分析。


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    系统测试过程 整套系统采用IF RIO结合上、下变频器来实现实时通讯过程，板载FPGA用于建立实时通讯，HOST处理器用于信号的后续分析。 测试过程中由IF RIO板载FPGA生成指令，并进行编码，之后通过板载DUC以及DAC转化为中频信号，传送给上变频器调制在射频载波上经天线向外发送。接收到的应答信号经下变频器转化为中频信号后传送给IF RIO，通过板载ADC以及DDC转化为数字基带信号，应答信号在解调、数字化之后送至控制器进行物理层测试，同时由FPGA解码后的信息也送至控制器进行协议层测试。 系统软件架构 在软件设计中，我们采用了模块化的层次结构，使得软件构架也非常的简洁。首先将整个软件系统划分为了三个层次：硬件控制层、物理测试层以及协议测试层。其中，硬件控制层实现对模块化仪器的控制，包括板载信号处理以及硬件触发采集等；物理测试层实现对应答信号的物理参数测试，包括时域、频域的各种测量分析；协议测试层实现指令信号的生成、编码，以及应答信号的解码、协议分析。在多层次结构的框架下，各层又具体的分为一系列的功能模块。（详见表 1） 表1
    模块化层次结构 功能
    硬件控制层 初始化硬件、配置硬件参数、下载指令波形、发送指令及接受应答、关闭硬件
    物理测试层 实时频谱分析、时域波形参数测量、时频联合分析
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