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    工业数据采集和控制的低成本集成解决方案

    2006-03-16 NI-美国国家仪器有限公司

    专为以下工程师度身定制:
      - 希望了解工业级的数据采集和控制的挑战和解决方案
      - 考虑低成本的工业I/O的集成方案
      - 需要更进一步了解NI工业模拟和数字I/O产品及其应用
      
      通过本场研讨会,您将学习到:
      -了解如何应对工业数据采集和控制的三大挑战:
      工业级的I/O特性
      可靠并独立的运行
      和其他I/O的紧密集成
      -NI工业I/O卡的诸多特性:如可编程上电状态、看门狗、高压隔离、可编程数字滤波器等
      -实时的平台保证系统的可靠性
      -基于LabVIEW的统一的软件平台使得系统集成变的更容易
      
      本场研讨会涉及的产品包括:
      •工业I/O卡:数字,计数器/定时器,模拟输入/输出,运动和视觉
      •软件:LabVIEW,LabVIEW RT
      •平台:PXI
      在本场研讨会中,NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示,帮助您进一步理解NI用于工业数据采集和控制的优势所在。
      时间地点:
      2006/03/21 南京 14:00-16:30 南京维景(原希尔顿)国际大酒店3楼查理厅(南京中山东路319号)
      2006/04/13 无锡 14:00-16:30 无锡华美达酒店2楼会议中心(无锡中山路335号)
      2006/04/20 苏州 14:00-16:30 苏州丽都大酒店5楼4号会议厅(苏州干将西路168号)
      邀请您的同事一起来参加研讨会:
      即日起,推荐您的同事/朋友参加NI的研讨会,您和您的同事/朋友都将获得精美礼品。
      活动细则:
      1. 被推荐者需满足以下条件: (1) 首次与NI联系 (2) 测试测量领域工程师 (3) 参加研讨会,您和被推荐者需要在会上完整填写活动咨询表
      2. 回馈方法: 推荐同事参加研讨会,会议结束后,我们会为您和您的同事/朋友寄送NI精美礼品一份


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