• 集显微镜•SEM•粗糙度仪的功能于一身 ———形状测量激光显微系统 VK-X100/X200 系列
    2012-03-30 KEYENCE-基恩士国际贸易(上海)有限公司

      3月27日,工业自动化领域,销售传感器测量仪器、显微系统以及逻辑控制系统的供应商,日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场「形状测量激光显微系统 VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。 

    「形状测量激光显微系统 VK-X100/X200 系列」的特点如下;

    高分辨率,大景深观察
           (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍
           (2) 完全聚焦的清晰图像
           (3) 符合溯源性要求

    仿佛彩色 SEM
           (1) 16 bit 激光彩色观察
           (2) 放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分析
           (3) 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

    无损轮廓和粗糙度测量
           (1) 非接触式设计,可用于测量软质的工件
           (2) 方便定位测量区域
           (3) 激光光束波长比表面粗糙度测量直径小

     
     
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