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    基于时域反射计测量提取S参数的一种新方法

    2007-03-16 《中国测试技术》杂志社

    魏茂坚,徐红兵(电子科技大学自动化工程学院,四川成都 610054)   摘  要:讨论了通过时域反射计的瞬时反射和传输响应的测量来提取宽带S参数的一种新的方法。所讨论的有理函数方法,综合运用了广义束函数法,递归去卷积以及标准结构的方法来获取系统的响应。与传统的算法相比,减少了误差。该模型与SPICE建立的模型兼容,并且能够对模型的频率与瞬时响应进行仿真。仿真结果表明了算法的有效性。   关键词:时域反射计;S参数;有理函数;广义束函数;递归去卷积   中图分类号:TM934.7      文献标识码:A     文章编号:1672-4984(2007)01-0057-03   Extraction of S-parameter from TDR measurement WEI Mao-jian, XU Hong-bing (School of Automation Engineering,University of Electronc Science and Technology,Chengdu 610054,China)   Abstract:This paper presented extraction of the brand band S-parameter response from transient reflection and transmission measurement.This method used the Generalized Pencil-of-Function method,recursive deconvolution and calibration structures to obtain the response using rational functions.These models are SPICE compatible and can be used to simulate the frequency or transient response.  Key words:TDR;Scattering parameters;Rational function;GPOF;Recursive deconvolution


     

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