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    基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计

    2006-06-19 《中国测试技术》杂志社csjs

    周启忠,顾亚平,陈光礻禹
    (电子科技大学自动化工程学院,四川 成都 610054)
     
    摘要:VXI高速数字测试模块主要用于数字板卡和数字系统的测试,也具有逻辑分析仪和数字信号发生器的功能。本文讲述了基于VXI总线的高速数据测试模块硬件电路设计。设计包括VXI总线接口电路,高速数据通道(FDC)传输电路,本地数据处理电路和64路可编程I/O电路。充分结合VXI消息基接口的优点,实现了高速数据测试;实时数据比较和故障诊断功能,并对设计过程存在的问题进行讨论。
     
    关键词:VXI总线;消息基;字串行协议;双端口RAM
     
    中图分类号:TP311.12 文献标识码:A 文章编号:1672-4984(2006)03-0089-04
     
    Hardware design of high-speed data test module based on VXI bus
    ZHOU Qi-zhong,GU Ya-ping,CHEN Guang-ju
    (School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology,Chengdu 610054,China)
     
    Abstract:The VXI high-speed data test module is primary used for the test of digital modules and systems. It functions as logic analyzer and signal generator too. This paper described the hardware design of a high-speed data test module based on VXI bus. The device includes circuit of the VXI interfacing, fast data channel, local data processing 64 pins of programmable TTL digital I/O. Taking advantage of message based device, it realized high-speed data test, real-time comparison and fault diagnosis. The problems in the process of designing were also discussed. 
     
    Key words:VXI bus; Message based; Word serial protocol; Dual-port RAM


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