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| 工业数据采集和控制的低成本集成解决方案 |
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| 发布时间：2006-3-16
来源：NI-美国国家仪器有限公司 |
专为以下工程师度身定制：
- 希望了解工业级的数据采集和控制的挑战和解决方案
- 考虑低成本的工业I/O的集成方案
- 需要更进一步了解NI工业模拟和数字I/O产品及其应用
通过本场研讨会，您将学习到：
-了解如何应对工业数据采集和控制的三大挑战：
工业级的I/O特性
可靠并独立的运行
和其他I/O的紧密集成
-NI工业I/O卡的诸多特性：如可编程上电状态、看门狗、高压隔离、可编程数字滤波器等
-实时的平台保证系统的可靠性
-基于LabVIEW的统一的软件平台使得系统集成变的更容易
本场研讨会涉及的产品包括：
•工业I/O卡：数字，计数器/定时器，模拟输入/输出，运动和视觉
•软件：LabVIEW，LabVIEW RT
•平台：PXI
在本场研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解NI用于工业数据采集和控制的优势所在。
时间地点：
2006/03/21 南京 14:00-16:30 南京维景（原希尔顿）国际大酒店3楼查理厅（南京中山东路319号）
2006/04/13 无锡 14:00-16:30 无锡华美达酒店2楼会议中心（无锡中山路335号）
2006/04/20 苏州 14:00-16:30 苏州丽都大酒店5楼4号会议厅（苏州干将西路168号）
邀请您的同事一起来参加研讨会：
即日起，推荐您的同事/朋友参加NI的研讨会，您和您的同事/朋友都将获得精美礼品。
活动细则：
1. 被推荐者需满足以下条件： (1) 首次与NI联系 (2) 测试测量领域工程师 (3) 参加研讨会，您和被推荐者需要在会上完整填写活动咨询表
2. 回馈方法： 推荐同事参加研讨会，会议结束后，我们会为您和您的同事/朋友寄送NI精美礼品一份 |
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