• 基于EMD和GA-SVM的超声检测缺陷信号识别
      基于EMD和GA-SVM的超声检测缺陷信号识别

      摘 要:为提高金属探伤时对缺陷的识别能力,提出一种遗传优化支持向量机,结合经验模态分解(EMD),对超声波缺陷信号进行自动识别。首先进行经验模态分解法分解,提取出原始信号特征,构建特征向量。鉴于常用的神经网络模型识别率不高及支持向量机参数难确定的问题,利用遗传算法优化支持向量机模型(GA-SVM)的惩罚因子和

      中国测试
    • 一种基于33250A型信号源的数字超声探伤仪水平线性误差
      一种基于33250A型信号源的数字超声探伤仪水平线性误差

      一种基于33250A型信号源的数字超声探伤仪水平线性误差测试方法摘 要:针对数字式超声探伤仪水平线性误差的准确测试,提出一种方法,即基于33250A型函数信号发生器,利用其函数信号发生器外部触发延时输出的功能模拟超声探伤仪水平线性的距离,可以准确地测试数字式超声探伤仪的水平线性误差。通过实验设计和实验数据验证,

      中国测试
    • 基于稀疏表示的电力系统谐波信号频率分析
      基于稀疏表示的电力系统谐波信号频率分析

      摘 要:谐波污染对电力系统和电力设备产生严重的危害和影响,当电力信号中存在强大的噪声成分时,传统的快速傅里叶变换(fast fourier transform,FFT)无法准确提取出谐波成分。该文在信号稀疏表示理论的基础上,提出基于稀疏表示的电力系统谐波信号频率分析方法,并设计出谐波频率分析快速算法。通过Matlab仿真,结果表明

      中国测试
    • 基于密集频谱校正的电流信号高准确度分离技术
      基于密集频谱校正的电流信号高准确度分离技术

      摘 要:为实现具有密集频谱的频谱校正分离,通过研究基于复调制移频和低通滤波器的传统Zoom-FFT方法和频谱校正方法,提出一种电流信号高准确度分离方法。该方法采用基于复解析带通滤波器和复调制移频的频谱细化方法和比值校正法对电流信号进行频谱细化校正,实现电流信号的高准确度分离。研究结果表明,该文采用的频谱细化

      中国测试
    • 基于FPGA的列车转向架振动信号滤波系统
      基于FPGA的列车转向架振动信号滤波系统

      摘 要:针对高速列车转向架蛇行失稳问题,为实现转向架构架横向振动的实时监测,保证转向架稳定性判断的准确性,提出一种列车转向架振动信号滤波器系统设计的FPGA实现方法。通过研究数字滤波器的基本理论,利用FIR数字滤波器的线性相位特性,结合Matlab仿真软件设计出符合要求的数字滤波器,并给出Quartus II平台上的波形测

      中国测试
    • 伪随机信号(m序列)相关辨识的动态测试方法
      伪随机信号(m序列)相关辨识的动态测试方法

      何华锋, 李元凯, 董海迪, 杨学猛(第二炮兵工程大学302室,陕西 西安 710025)摘 要:针对传统动态测试用时较长的问题,提出基于伪随机信号相关辨识的动态测试方法。对比传统仪器设备的动态测试方法,阐述基于伪随机信号(m序列)相关辨识的动态测试方法的整体结构,推导出离散系统脉冲响应估计的递推公式;基于估计的脉

      中国测试期刊
    • 基于包络Holder指数的AE信号初至时刻精确拾取
      基于包络Holder指数的AE信号初至时刻精确拾取

      声发射(AE)信号初至时刻精确拾取是声发射源定位中的关键问题,该文探讨基于连续小波变换的H?觟lder指数方法拾取AE信号初至时刻,为突出信号初至时刻的奇异性特征,提出对信号包络估计的包络H?觟lder指数方法。通过对模拟AE信号和金属裂纹AE信号应用结果表明:包络H?觟lder指数可以精确提取AE信号的初至时刻,误差小于2 s

      中国测试
    • 基于蒙特卡罗的核脉冲信号模拟
      基于蒙特卡罗的核脉冲信号模拟

      王红印1, 周建斌1, 周 伟1,2, 王 雪1, 卢圣才1, 李 建1(1. 成都理工大学核技术与自动化工程学院,四川 成都 610059;2. 中国矿业大学 煤炭资源与安全开采国家重点实验室,江苏 徐州 221116)摘 要:介绍一种基于蒙特卡罗的核脉冲信号模拟方法,阐述蒙特卡罗方法中实现直接抽样和替换抽样的关键技术要点,并基于VC++

      《中国测试》杂志
    • 何为矢量信号收发仪(VST)?
      何为矢量信号收发仪(VST)?

      在过去的几十年里,软件定义的射频测试系统架构已经成为主流。如今,几乎所有商业现成的(COTS)自动化射频测试系统都使用应用软件通过总线接口与仪器进行通信。射频应用变得越来越为复杂,工程师们正面临增强功能性且不增加测量次数与成本的两难。

      美国NI仪器公司
     
    网站首页  |  关于我们  |  联系我们  |  广告服务  |  版权隐私  |  友情链接  |  站点导航